HardFault 原因是什么？是 BusFault 吗？
看起来像是数组越界了

需要初始化的时候或者在休眠之前调用FLEXCAN_DRV_EnableSelfWakeUp函数即可；

YTM32B1MD1x 不支持引脚 Open Drain 配置，另外不要修改 YTM32B1MD1_features.h 文件，这些 feature 只能是指示当前芯片是否支持该功能

在参考手册RM中的EFM章节

zhai MC03 的 Secure Boot 应该可以对任意合法的Flash 内容进行校验。如果你希望同时对你的 bootloader 与 app 进行校验，增加一个 Secure Boot Section（文档中有提及）即可，即一个 section 用来校验 bootloader，一个 section 用来校验 app。需要注意的是，如果你用 bootloader 去更新了你的 app，那么就需要修改签名值，因为 app 的签名也发生了更改，否则 Secure Boot 会无法跳转到你的 bootloader

YQH 这个外挂唤醒帧在哪里设置

PIN脚复用成其它功能时，方向input output没有影响

WDG_Wakeup_Demo.zip

lpack是进低功耗睡眠时 外设可能由于正在通信等原因造成ack timeout超时产生了reset。
可以在进低功耗前，关闭DMA 和 通信模块

yt0069 ok，谢谢

目前没有，RTOS有freertos

可以修改改下SDK的程序，实现：
1、增加1个脉冲标志位，在中断里面置位

image.png
2、回调函数里，查询这个标志位，计算并清零标志位

image.png

Diga 在 云途SDK中使用GPIO的demo进行了串口打印，打印乱码，对demo没有改动： 中说：

串口用的应该是 FXOSC(24M) 倍频的 PLL(120M)时钟，你可 check 一下晶振时

应该怎样去检查呢

image.png
是想取消这个加载吧

噢，忽略掉了，可以了，谢谢！

Evan_Song check一下这个API，确保与下图保持一致：
a3e861e0-8cfe-4f1c-8015-ae97fb2f9476-image.png

排查软件，发现operatingMode配置会影响测试情况
image.png
image.png
该配置如果选用I2C_STANDARD_MODE，外部上拉用4.7K、1K、500Ω，上升沿时间都接近500ns；
该配置如果选用I2C_FAST_MODE，外部上拉用4.7K，上升沿时间约1500ns
image.png
外部上拉用1K，上升沿时间约500ns
image.png
外部上拉用500Ω，上升沿时间约200ns
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（测试结果附加示波器影响，实际情况应该更好）

houjun_xiao 在 使用YT32B1ME0FLS第一次擦写时失败，第二次才能擦写成功 中说：

我刚测了一下Demo，没发现你说的现象，你也可以用Demo试一试，看看有没有类似的现象？你现在用的是那个版本的软件呢？方便展示一下Fls模块的配置不？

Enwei 因为要保证随机性，所以不能随意更改TRNG的bus clock，设计上要求TRNG内部时钟频率需要>=5*bus clock，TRNG内部时钟频率又和工艺相关，所以改时钟的方式行不通，建议还是改ent_dly或者sample size，另外我们sample size如果设置0x100，TRNG随机数的结果为256bit，如果只需要32bit，则可以设置为0x20，这个可以根据实际需求做调整