YunTu Forum

UDS FBL Demo合集参考：
https://forum.ytmicro.com/topic/1537/ytm32b1le04-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1201/ytm32b1le05-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1603/ytm32b1le05-uds-lin-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1200/ytm32b1le15-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1641/ytm32b1le15-uds-lin-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1199/ytm32b1mc03-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1202/ytm32b1mc03-uds-lin-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1179/ytm32b1md14-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1180/ytm32b1md14-uds-lin-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/2223/ytm32b1md24-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1257/ytm32b1me05-uds-can-fbl公版操作指南

https://forum.ytmicro.com/topic/1447/ytm32b1ha01-uds-can-fbl公版操作指南

目前已经在用户 Boot 中配置了 Secure Boot，但是实际烧写后发现 ROM 启动后没有正常进入 Boot，调试了一下发现主要是严格安全启动BOOT_SEQ_STRICT这个位导致进入不了boot，因此希望确认 ROM → Boot 的启动流程以及具体的调试方法

CM7_0_M_EN-1 BOOT_SEQ-1 BOOT_SEQ_STRICT-1 APP_WDG_EN-1 ROM_BOOT_SCST_EN-1 CPDIVS-0

boot中secure group软件配置如下

const secure_boot_group_config_t secure_boot_group SB_CONFIG_SECTION_SEG = { .secure_boot_group_marker = SECURE_BOOT_GROUP_MARKER, .secure_boot_section_num = 1, .encrypt = true, .aes_key_size = KEY_LEN_128_BITS, .key_slot = 0, .section_config_addr[0] = (uint32_t)&secure_boot_section_config0, };

boot中secure section软件配置如下

const secure_boot_section_config_t secure_boot_section_config0 SB_CONFIG_SECTION_SEG = { .secure_boot_marker = SECURE_BOOT_SECTION_MARKER, .aes_key_size = KEY_LEN_128_BITS, .key_slot = 0, .start_addr = 0x02000800, .length = 0xFC00, .cmac_addr = (uint32_t)&cmac0[0], };

目前已经检查了生成的 HEX 文件，Secure Boot Group 和 Secure Boot Section 的相关配置在 HEX 中没有发现明显异常，并且编辑hex在最后加入了boot的cmac计算值
c26d62ee-f89c-4f6a-9606-fd796096f566-image.png
但烧写进去boot未启动
想确认一下：
1.ROM 没有进入 Secure Boot 流程
2.ROM无法跳转是因为CMAC 校验失败还是因为group/section配置校验失败
3.关于这部分调试方法或者相关资料和参考示例代码

d0842060-ab04-48ab-82d4-70af65b3ce70-image.png 我的fls只配置了一个sector，sector数量为20，对应的起始地址是0x14000，但是我在使用过程中，只有fls_read可以正常使用，fls_write和Fls_Erase执行后会进入死循环，程序无法正常运行了c71a62c5-af13-4a5b-9c9a-10f131882917-image.png

c401e9dc-fad2-4315-8c60-ceff688f475a-image.png SDA的波形看起来很正确， 0XA0, 00, 0X58(A0 是器件地址， )

YTM32B1HA0 怎么用HCU SHA256对刷写的程序计算摘要，没有找到SHA256 demo

LE15 UDS LIN FBL demo(SDK 1_3_1)
本方案基于YT Config Tool开发，使用Vscode+Cmake+Ozone工具链开发编译调试；基于Demo板硬件搭建实施；使用同星科技TC1012P CAN/LIN工具及同星科技TSmaster软件。
f4a50300-1cf4-4b4d-acea-b125d11fcf9f-image.png

烧录Bootloader
新建YTM32B1LE15/JFLASH工程
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找到Bootloader编译的烧程文件,加载Bootloader烧录文件
8a37c389-3570-4e30-acc6-2c432d917601-image.png
擦除芯片（或者快捷键F4）
a8358db1-545a-453c-af80-0dbee9c4ccf8-image.png
d5455a9e-0a33-4ed3-af75-83efcf9936f5-image.png
烧录程序（或者快捷键F6）
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6a76e5ea-df92-4e01-90ec-13cd4b850b1d-image.png 上下电运行Bootloader
拔掉JLINK烧录器，重新上下电后，板子重新工作，LED按照100ms快速闪烁，程序工作在Bootloader里面。 升级上位机配置
将FlashDriver文件、Application文件、SeedAndKey.dll几个文件放到升级上位机目录下。
0c6f1518-0e24-42f8-acda-56227c2263e1-image.png
打开升级上位机工程（如上图中.TSProj_x64文件）配置收发ID 0x2
ca0c69e1-413f-42d7-8f7d-baf7c31d314e-image.png
配置TP时间参数，配置加密dll
3654342d-0558-4cff-abe1-074be5e9c4e4-image.png
配置FlashDriver和Application和校验方式
932dd152-9ab4-4404-85c5-1ebcc1613589-image.png
配置自动诊断流程
c2b83dc6-e991-4020-b9d5-036f9c221383-image.png 执行升级
4.1 从Bootloader升级
17d4d974-cecb-400b-8431-6647d8a92bdf-image.png
升级完成后，LED灯1000ms闪烁，运行在Application程序中（Bootloader程序中LED灯100m闪烁）。
从App升级
ff6dc525-fd43-4e0f-a428-35e44992b107-image.png
4.1.1 已发生升级流程请求
执行到升级流程后，拔掉LIN线模拟通讯断开，升级失败
581429a6-299b-4b8e-9cdb-7128d6381204-image.png
通讯断开超时后，Boootloader不能进入Application，执行StayInBoot（重新复位或者上下电等均保持StayInBoot）。
重新执行升级
74d6ef52-6e30-4546-974e-80993e54427e-image.png
升级成功，Demo板上LED灯1000ms闪烁。
YTM32B1LE1(sdk_ver_1_3_1)_lin-stack_0_9_0 (1).zip
uds_lin_fbl_le151210.zip

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UDS27有三个level，需要写入3个不同16字节秘钥到HCU，需要怎么写入3个秘钥并在27服务计算key时调用对应level的秘钥进行计算

LE15 的 Bootloader 需要生成 UDS 0x27 安全访问 Seed。客户要求：每次请求 Seed 后通过 0x11 复位，复位后立即再次请求，连续 200 次 Seed 不允许重复。
请问原厂有推荐的随机数算法或参考代码吗？如何避免复位后生成相同序列，同时保证 Seed 不易预测？

您好，想确认 Flash ECC 单比特错误的处理机制。
目前理解，当读取 Flash 时检测到单比特错误，硬件 ECC 可以纠正该错误，使读取结果恢复为正确数据。但对于纠错后的处理方式，仍有以下疑问：

硬件是否仅对本次读取返回的数据进行纠正，而 Flash 中实际存储的数据位及 ECC 校验位保持不变？ 还是硬件会自动将纠正后的内容回写到 Flash，修复实际存储的错误位？
根据例程，似乎需要软件读取纠正后的数据，再执行必要的擦除、重写操作，以恢复正确的数据及 ECC 校验信息。请问这一理解是否正确？如果不进行软件修复，后续读取同一地址时，是否仍会触发单比特 ECC 错误？
烦请确认上述机制，并提供推荐的处理流程，谢谢。

MC03从STANDBY唤醒后后，SPI数据与无进入STANDBY之前数据不一样，请问有什么需要注意的地方吗？

YCT生成keil工程编译报这个错误，考虑什么情况。
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在使用IAR、KEIL的实际软件开发过程中经常会用到多个配置文件，比如

Debug 配置：低优化等级方便单步调试、带调试符号、可能还带一些只在开发阶段用的断言/日志打印宏； Release 配置：高优化、体积小、关掉调试相关代码，是真正量产的版本； 有的项目还会再细分出第三、第四种配置，比如不同ECU或者产品的差异化裁剪版本等。

这些配置共享同一份源代码，只是编译宏、优化选项、输出路径或者链接脚本不一样——IAR 的 Configuration、Keil 的 Target，都是为了原生支持这种"一份工程、多套编译产出"的场景而设计的。

但是目前使用YCT工具的情况来看，IAR和KEIL自身的多套配置是不受支持的，自己定义了多套配置，使用YCT重新Generate之后，生成出来的总是单一Target 的工程，会把原有工程的其他配置覆盖掉，这给用户带来很大不便。
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建议YCT 配置工具增加支持IDE工程的多套配置识别功能，这样用户在只想更改芯片相关功能的时候，不会带来额外的时间成本(重新添加.c.h文件和一些其他相关配置)，节省开发时间。

按照帖子里面UDS的使用指南操作
擦除芯片之后重新烧录.s19文件，mcu可以正常闪烁
但是在执行自动检测的时候flashriver提示不可配置，想问一下是我哪里配置的有问题吗
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AD通道组在single和oneshot,软件触发模式下(12位分辨率,5V),通道组第一个通道转换值偏低,其余通道转换正常.
尝试了以下方式:
1.每隔1ms下按以下顺序转换: 组1,组2,组3,组1,组2........, 每隔通道组第一个通道值偏低(电压大约0.3V,AD大约30)
2.每隔1ms下按以下顺序转换: 组1,组2,组2,组3,组1,组2,组2........, 组2采集到的AD值正常(在这种情况下发现,读取每次循环的第一次组2的AD值还是偏低30左右,读取第二次组2的AD值正常(每次循环中的第1,2次))
3.将采样时间从40提到200,每隔1ms下按以下顺序转换: 组1,组2,组3,组1,组2........, 每个通道组第一个通道值偏低(电压大约0.24V,AD大约20)

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CAN要手发的报文对应不同的长度，可以配置mailbox的时候去灵活配置他们的不同长度吗

TRNG获取随机数时想要尽量缩短请求的时间（只需要获取3字节的随机数）
目前根据MCAL中的Crypto_demo例子
(slow_bus_clk为24M，samp_size为0x200)
在sample_size和slow_bus_clk都不变的前提下通过修改eny_dly缩短时间，eny_dly修改为0x80、0x100、0x200都可以获取到随机数
eny_dly为0x80时（5ms获取一次）：
复位后连续获取1w次，重复的随机数出现2次、4次、8次（共测了3轮共计3w次）
复位后获取1000次再复位共计10轮1w次，重复的随机数出现3次、2次、5次（共测了3轮共计3w次）
eny_dly为0x100时（10ms获取一次）：
复位后连续获取1w次，重复的随机数出现5次、6次、2次（共测了3轮共计3w次）
复位后获取1000次再复位共计10轮1w次，重复的随机数出现1次、3次、1次（共测了3轮共计3w次）
eny_dly为0x200时（20ms获取一次）：
复位后连续获取1w次，重复的随机数出现4次、6次、1次（共测了3轮共计3w次）
复位后获取1000次再复位共计10轮1w次，重复的随机数出现3次、0次、4次（共测了3轮共计3w次）
问题1：
理论eny_dly设置越大重复率应该越低，为什么效果不太明显呢？（也有可能是测试的样本数量不够，YT这边是否有相应的测试数据？）
问题2：
我尝试保持eny_dly和slow_bus_clk不变修改sample_size为0x20、0x80、0x100时获取到的随机数都是相同的，是不是有哪个地方没有修改对？
代码如下：
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