有什么办法能测试FLASH ECC 错误

[houjun_xiao]

EFM Ecc可以通过注入的方式进行测试，每颗芯片都可以注入，方法略有差异，可以参考SafLib里面的EccTst模块，这个模块是用注入模式测试Ecc功能是否正常。

[run]

也可以参考一下SDK的ECC Demo

通过控制缩短擦写时间来制造ECC错误（和真实掉电场景接近，仅用于测试，在真实生产环境中不要随意修改擦写时间！！！）

[Ekko]

run 还没有更新YCT,之前没看到这个例程，感谢。

[Ekko]

houjun_xiao SafLib 这个是可以在哪看到呢

[houjun_xiao]

这个Demo就是用注入的方式实现Efm Ecc错误测试。

[Ekko]

houjun_xiao 好的 这个我还需要去申请权限，都会去测试一下，感谢

[houjun_xiao]

如果你用的是YTM32B1HA0, 则需要安装0.9.1版本的MCAL才会支持SAFETY。

[Ekko]

run 客户在使用这个例程时，多次注入故障，有时候读取EFM里的错误地址，并不在擦除地址范围之内，这个可能是什么原因造成的（我自己使用demo板多次注入，并没有出现过这个问题）

[run]

这个有点奇怪，是不是之前就已经存在了ECC 错误了呀。
建议chip erase后再重新测试试试。

[Ekko]

run 好的 我让客户再试试

[BJX]

run 你好，我参考这个demo,我读取到的错误地址不是我擦除的地址反而是bin固件中的一个地址，但我用j-flash读取该地址的数据，并没有错误，每次下载测试前也进行了全片擦除，中断也都打开了

下面是设置的的测试地址

下面是RTT打印的数据

[BJX]

run
还有为什么 demo里不同的错误状态清除方法确是一样的

另外我看flash应用笔记说 读取unrecovery error 后，会在 HardFault 退出后，进入 EFM ECC 中断

这样写为什么不进入EFM ECC 中断 哪里不对吗

[run]

EFM_RecoveryErrorHandler函数里面确实应该清除RECOVERR标志：
EFM->STS = EFM_STS_RECOVERR_MASK | EFM_STS_CI_RECOVERR_MASK;

YTM32B1HA0 不会EFM_STS_CI_RECOVERR 和 EFM_STS_CI_UNRECOVERR, 确实不会进入到 EFM_RecoveryErrorHandler 和 EFM_UnrecoveryErrorHandler 中断处理函数中，因此建议在HardFault_Handler 或者 BusFault_Handler中进行处理。

[BJX]

run 你好

1. UNRECOVERR 和 RECOVERR 这两种错误都是在HardFault_Handler 里面处理对吗，因为我看demo里只写了UNRECOVERR 的处理，想确认一下
   2.我测试时 发现 EFM->ECC_ERR_ADDR 记录的错误地址跟我擦除的地址不对，是怎么回事，在12楼里贴的有图

[run]

1. UNRECOVERR 在HardFault_Handler处理就行，RECOVERR并不会触发HardFault，可以不进行处理。

2. 我这边正常的，你的工程方便简化发上来看一下吗

[BJX]

run5c9e980f-76e7-467d-b6e8-547f0362b490-b1ha01_100_pin.zip
好的 用的keil，中断写在bsp_sys里面，rtt交互在task_u0_tx.c里 u0_tx_task_fun 函数

[BJX]

run 你好，你们这个demo, p_instruction_address 是获取PC寄存器吗，获取PC的话 +8 不对吧

[run]

BJX
这里进行了压栈，因此是+8的

确实可能会存在不同编译器导致编译出来和预想不一致的情况。
可以使用下面附件中的做法，这样更好想一点。
flash_ecc_fault.zip

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上一个问题：
需要将EFM配置里面全局中断配置为disable，进行关全局中断处理。
因为在进行flash0 erase操作时，访问了pflash0上的代码（systick中断），这样访问读取时误触发了ecc 错误。其实是没有ecc错误的。