ADC采样漂移或不准问题排查方法

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ADC采样漂移或不准问题排查方法

ADC采集是每个项目都需要用到的功能，很多项目应用因为一些条件不当造成类似采集不准、数据漂移等现象的结果，本文以YTM32B1ME05芯片举例说明通用分析方法。

硬件排查

采样电路排查

硬件设计上需要重点关注ADC采集外部引脚上电容匹配，很多用户硬件设计上没注意如下电容匹配条件，这个一定会影响ADC采集，这个参数查询确认具体参考每个芯片的DS中ADC Characteristics章节，如下图所示：

VREF电压排查

按照硬件设计指南，在保证VDD、VDDA、VREF等正确设计的情况下，ADC采集不受影响。
万一出现无法确定的情况，测量VDDA、VREF等工作电压辅助判断。

软件排查

配置排查

ADC有个采样率的重要指标：

1. MD/ME芯片ADC采样率 <= 2M；
2. LE/MC芯片ADC采样率 <= 1M；
   采样率一般在RM的ADC章节的Features篇：

• YTM32B1ME0芯片的采样率描述如下
  
• YTM32B1LE0芯片的采样率描述如下
  
  采样率影响的因素有：
  1.ADC clock
  2.ADC sample resulution
  3.ADC SMP time
  以ME系列举例说明采样率计算和配置检查：
  
  采样率 = AdcClk / (2 + SMP + RES)
  其中：
  1.AdcClk：功能时钟经IPC分频后经Adc再分频后时钟
  2.SMP：采样时钟数，SMP寄存器
  3.RES：采样精度，12bit精度则对应12个采样时钟
  举例：配置YTM32B1ME0 2M采样率
  1.ADC IPC功能时钟选择FIRC（96M)，IPC配置3分频（得到32M）
  2.ADC内部分频PreDiv配置0为1分频（得到AdcClk为32M）
  3.SMP配置为2
  4.RES配置为12
  配置要求：
  1.AdcClk <= 32M (MD/ME)
  2.AdcClk <= 16M (LE/MC)
  3.采样率 <= 2M（MD/ME）
  4.采样率 <= 1M（LE/MC）
  5.在保障数据稳定的前提下，可以适当增大SMP降低采样率。

用法排查

1.ADC不论是软件触发和硬件触发，保持正常工作模式和触发时序，一般都能正常工作。
2.ADC一旦启动会自发运行，用户在debug过程中监测ResultBuf[]即可，不能打断点看结果，这种调试方式会导致ADC自发运行得到的结果和调试器监测的结果不同步，最终导致ADC OVERRUN等故障状态。
3.ADC采集debug过程中，在监测窗口不要去观测ADC FIFO等寄存器，观测行为等同于ADC_DRV_ReadFIFO()驱动，会影响FIFO队列和结果错位。
4.ADC多通道采集需要切换通道的，MCAL方式支持多Group机制，SDK方式如果两次切换Group时间间隙小，可以参考如下加Adc_Reset()操作：

Adc_Reset()
Adc_Config(&config_1)
Adc_Start()
......
Adc_Reset()
Adc_Config(&config_2)
Adc_Start()

5.ADC采集的结果只跟ADC采集管脚对应的万用表测量电压对应，不考虑分压或者反算、补偿等误差带来的干扰分析。

其他排查

以上是一些常见的通用问题排查，结合应用如果都排查完了还不好定位，请联系原厂技术支持。