ME0_IO配置为IIC导致上升沿较长
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测试把IIC管脚外围电路上拉电阻换小(由4.7K换为1K),上升沿持续时间依旧接近500ns,与之前4.7K情况类似。问题1:IIC的该情况会有什么隐患吗?比如高低温环境是否会加剧?
问题2:我们IIC最大支持400K波特率,SCL高电平持续时间仅1250ns,500ns上升沿是否会影响通讯的可靠性? -
可以提供一下检测硬件的思路吗?我上面测试的外部上拉用4.7K和1K的上升沿时间相同的情况,合理不?
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排查软件,发现operatingMode配置会影响测试情况
该配置如果选用I2C_STANDARD_MODE,外部上拉用4.7K、1K、500Ω,上升沿时间都接近500ns;
该配置如果选用I2C_FAST_MODE,外部上拉用4.7K,上升沿时间约1500ns
外部上拉用1K,上升沿时间约500ns
外部上拉用500Ω,上升沿时间约200ns
(测试结果附加示波器影响,实际情况应该更好)
帮助没办法联网的电脑使用YCT
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