YTM32B1MC03H0MLHT ADC 多通道连续扫描时，低电压通道后的首个高电平通道采样值偏低

[Colin]

客户异常问题现象：
使用 YTM32B1MC03H0MLHT 的 ADC 进行 12-bit、8通道循环扫描。
三路反馈信号的客户外围输入电路完全一致：47kΩ上拉电阻；信号再经过47kΩ串联电阻进入MCU ADC引脚；外部配置100nF电容。
示波器观察到 ADC 输入异常引脚存在纹波。



原通道顺序下：
[2] EXT23 / PB12 / PowerVoltage
[3] EXT6 / PB2 / ModeMotorFdbk = 3953
[4] EXT12 / PC14 / FrontTempMotorFdbk = 4095
[5] EXT14 / PC16 / RecircMotorFdbk = 4095
将 EXT6 与 EXT23 的扫描位置互换后：
[2] EXT6 / PB2 / ModeMotorFdbk = 4095
[3] EXT23 / PB12 / PowerVoltage = 0
[4] EXT12 / PC14 / FrontTempMotorFdbk = 3961
[5] EXT14 / PC16 / RecircMotorFdbk = 4095
调整扫描顺序前，EXT6/PB2 的采样值为 3953；调整后 EXT6/PB2 的采样值变为4095，EXT12/PC14 的采样值变为3961。

[Colin]

将电源采样通道 PowerVoltage（EXT23） 调整到ADC扫描序列最后一位 [7]，调整后，其余ADC通道的采样结果均恢复正常，未再出现异常采样值。

[Colin]

各位佬们 ，有下一步分析和结论吗？上述规避方案是否可行

[major]

这个对ADC转化时间有要求吗？也可以通过增加采样时间来解决。如果外部驱动能力较弱，ADC上一个采样结果会在下一个通道导通之后对外部通道形成充放电效果，增加采样时间，外部增加采样电容等都可以进行有效规避。

[Colin]

有尝试过sampleTime =100; 采样值还是偏低的；

[Colin]

Adc.zip上面是客户的adc配置；板子上外部晶振24M；

[Colin]