MC03_ABSwap FEE数据可保持

DZH

版本：

Config Tool Version：2.7.6
MC03 SDK version：1.3.1

前言：

有硬件ABswap后FEE历史数据保持的需求。由于YTM32B1MC系列MCU⽆内置EEPROM，故对需要使⽤EERPOM的应⽤场景可通过DFlash及软件模拟实现EEPROM功能。
本⽂简述云途YTM32B1MCx系列的硬件ABSwap原理和FEE历史数据保持实现过程和使用方法。

1. BOOT_INFO寄存器

不同型号的芯片描述不一样，MC03描述如下：

ME05描述如下：

简单来说，BOOT_INFO寄存器可以用来判断程序是从PFLASH0还是PFLASH1启动。

2. MC03_AB_Swap-地址重映射

如下图为MC的AB_Swap地址重映射流程说明。
当STS[BOOT_INFO]=O时执行BOOT_SWAP命令，然后复位EFM，STS[BOOT_INFO]将置为1，地址将重新映射：
1.P_Flash0的Soc地址重映射到P_Flash1时，D_Flash0的Soc地址重映射到D_Flash1。
2.P_Flash1的Soc地址重映射到P_Flash0时，D_Flash1的Soc地址重映射到D_Flash0。
当 STS[BOOT_INFO]=1时执行BOOT_SWAP 命令，然后复位EFM将切换回地址映射并清除STS[BOOT_INFO]标志。

3. FEE数据搬运

如下图为各个FLASH区域之间支持边读边写的关系。
1.异步访问：因为P_Flash0,D_Flash0在同一个FLASH块，P_Flash1,D_Flash1在同一个FLASH块。所以P_Flash0对D_Flash1支持边读边写，P_Flash1对D_Flash0支持边读边写，即异步访问。
2.当程序从P_Flash0启动时，建议将FEE数据存储在D_Flash1，这样在读写D_Flash1时CPU无需等待，实现异步操作。反之亦然。

如下图为MC的AB_Swap流程图。
当程序从A区（P_Flash0）切换到B区（P_Flash1）时，如果想用相同的FEE配置去读写FEE，就需要在AB_Swap之前将D_Flash1的内容copy到D_Flash0。因为D_Flash的地址也会重映射。

4. 示例程序

基于MC03 Demo板，启用Ptmr（用于定时AB_Swap），FLASH，FEE，UART（便于调试）。
A,B区程序仅LED灯点亮部分代码不同，其他配置一样，A区亮蓝灯，B区亮绿灯。
程序每1秒（Ptmr定时）进行一次AB_Swap，A,B区灯交替点亮。
A,B区程序都会对FEE进行写读操作，并进行读写校验。
1.FEE配置
配置了3个BLOCK,每个BLOCK128字节.

FEE_Task：

写入的FEE信息和数据：

2.读写校验和D_Flash copy后的数据检验
将写入FEE和读取的数据进行检验，如果不相等程序会卡死。
将D_Flash copy后的数据检验,不通过则设置标志位verify_nok_flag，不执行AB_Swap。

3.AB_Swap逻辑
ptmr定时每1秒触发一次FEE_Task，D_Flash copy检验则执行AB_Swap。

5. 实测验证（操作步骤）

擦除芯片
下载A区bin程序到地址0
下载B区bin程序到地址0x20000（A,B程序仅LED灯点亮配置不一样）

4.复位运行程序，一秒进行一次AB_Swap，同时开发板LED灯交替点亮

6.压力测试

定义一个AB区共享的变量，用于记录连续AC_Swap次数。
因为MC03没有REGFILE寄存器（掉电保持），要实现AB区的变量共享除了retention_ram以外可以参考下面这个方法。
定义一个不会重复初始化的变量ABSwapCount，用于记录AB_Swap的次数，并将这个变量作为参考值写入FEE的3个BLOCK。
测试ABSwap 10000次保证程序正常运行。

配置
在RAM段分一个POR_ONLY区，定义POR_ONLY（上电才会初始化）（AB区程序相同配置）

同时将其上电初始化的值由0x5A改为0：

清除上电复位标志位，这样软件复位就不会初始化POR_ONLY段

定义AB_Swap计数变量，记录Swap的次数，并在AB_Swap之前++

在FEE_Task中将ABSwapCount作为参考值写入FEE的3个BLOCK,读取后打印ABSwapCount。
测试
测试步骤参考上面的方法，重启复位，程序每1秒进行一次AB_Swap，LED交替点亮，串口打印：

7.工程：

AB_Swap_MC03.zip

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